雙電測電四探針方阻電阻率測試儀是一種專業用于測量材料表面電阻的精密工具。該測試儀器在電子制造、半導體行業、研究和教學等領域有著廣泛的應用。
BEST-300c系列四探針方阻測試儀是運用四探針原理測量方塊電阻的專用儀器，電阻率和電導率同時顯示。儀器測試范圍0.0001mΩ~10.0000MΩ，小分辨率0.1uΩ，電阻的測量精度為±0.01%rdg.±0.001%f.s，方阻的測量精度為±2%rdg.±0.01%f.s，可用于測試半導體、金屬涂層以及導電薄膜等材料的電阻和電阻率。儀器具有高速的測試線異常檢測功能和極短的測量周期，能確保每次做出高速可靠的分選。儀器可自由配置成多檔分選，外部控制接口可配置成NPN/PNP。適合于各種信號接口的自動產線。

BEST-300c系列四探針方阻測試儀使用開爾文測試夾直接測試電阻器直流電阻；使用四探針治具測試片狀或塊狀半導體材料、金屬涂層以及導電薄膜等材料的電阻和電阻率；雙電測原理，提高精度和穩定性；測試探頭直排和矩形可選，標配RS232/485、LAN、Handler接口，可搭配上位機軟件查看和記錄測試數據。

參數

1. 便于查看的顯示/直觀的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示；操作易學，直觀使用；

2. 基本設置操作簡單，方阻、電阻、電阻率、電導率和分選結果；多種參數同時顯示。

3. 精度高：電阻基本準確度： 0.01％；

方阻基本準確度：1%；

電阻率基本準確度：1%

4. 整機測量相對誤差：≤±1%；整機測量標準不確定度：≤±1%

5. 四位半顯示讀數；十量程自動或手動測試；20mΩ/200mΩ/2000mΩ/20Ω/200Ω/2000Ω/20kΩ/200kΩ/2000ΚΩ/10ΜΩ 10檔分選；實現HIGH/IN/LOW分選

6. 測量范圍寬： 電阻：10-7Ω～10+8Ω ；方阻：10-7Ω/□～10+8Ω/□；

7. 顯示語言 英文/中文

8. 恒流源：電流量程為：DC100mA-1A；

9.供電模式110v/220v

10.軟件功能（選配）：軟件可記錄、保存、各點的測試數據；可供用戶對數據進行各種數據分 析。

11.測試模式：可連接電腦測試、也可不連接電腦單機測試。

12. 自動進行電流換向,并進行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時,可自動進行厚度修正。

13. 雙電測測試模式，測量精度高、穩定性好.

14. 具備溫度補償功能，修正被測材料溫漂帶來的測試結果偏差。

15. 比較器判斷燈直接顯示，勿需查看屏幕，作業效率得以提高。3檔分選功能：超上限，合格，超下限，可對被測件進行HI/LOW判斷，可直接在LCD使用標志顯示；也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細的分選結果。

特點：

●電阻 ⾼精度：0.01%， 小分辨率0.1uΩ；

●方電阻精度：1%， 小分辨率：0.1uΩ；

●雙電測原理，提⾼精度和穩定性；

●測試探頭直排和矩形可選；

●標配RS232、LAN、IO、通訊接⼝；

●可配戴軟件查看和記錄測試數據；


核心選型要素

測量原理與精度

三電極法：符合 GB/T 10518-2006 標準，適合絕緣材料高溫電阻率測試。

四探針法：適用于薄膜類材料，可測方塊電阻和電阻率，支持溫度-電阻曲線分析。

電阻范圍：至少覆蓋 10~101Ω，高阻值段（>1012Ω）誤差需≤±20%。


樣品兼容性

夾具要求：薄膜樣品直徑應≥100mm（不足需定制電極）。

測試方式：表面電阻與體積電阻需分開測量，且必須先測表面電阻。


對比

溫度范圍 測量原理 關鍵優勢 適用標準

-160℃~500℃ 三電極法 支持介質損耗/介電常數測試，控溫精度±0.5℃ GB/T 1409、ASTM D150

高溫真空/氣氛環境 三環電極法 鉑導線防信號衰減，觸摸屏操作便捷 GB/T 10518、ASTM

高溫箱集成 四探針法 自動繪制溫度-電阻率曲線，適合導電薄膜分析 半導體材料標準

未明確高溫范圍11 通用法 觸控操作，支持固體/液體/薄膜， GB/T 1410、ASTM D25711


操作注意事項

試樣預處理：確保薄膜表面平整、無損傷，避免雜質干擾。

環境控制：多數儀器工作環境為0℃~40℃，高溫測試需外接溫控設備。

數據校準：定期校驗儀器，高阻值（>1012Ω）段需重點驗證精度。


多功能/程控型測試儀

寬范圍覆蓋

絕緣電阻：100kΩ–99GΩ（交直流耐壓一體機，支持多檔編程）；



全自動粉體半導電電阻測試儀



電壓輸出：0.01kV–6kV，適配不同絕緣等級需求。

高精度能力

部分設備在2500V檔位可測 100GΩ，5000V檔位達 200GΩ（分辨率0.1MΩ）。


功能與場景適配

需求場景 關鍵功能配置 參考依據

現場快速檢測 便攜式設計（重量<10kg）、鋰電池續航>4小時、IP54防護等級

強電磁干擾環境 抗工頻干擾技術、自動濾波功能

高精度診斷 四線制測量（消除引線誤差）、溫度自動換算（校正至20℃標準值）

數據管理需求 存儲歷史數據、藍牙/USB導出、PC端分析軟件


典型應用場景

材料研究：半導體材料（如硅、砷化鎵）、絕緣材料（云母、四氟材料）的電阻率隨溫度變化分析。

工業檢測：耐火材料、碳素制品的高溫導電性能評估

材料形態與樣品類型：

塊體/板材/棒材：通常采用四探針法或兩電極法（結合四線制測量）。

薄膜/涂層： 常用四探針法（尤其范德堡法對不規則形狀友好）、非接觸渦流法（無損）、或專用薄膜電阻測試夾具。

粉末/顆粒： 需壓制成標準尺寸的片狀或棒狀樣品，再用塊體方法測量。需考慮壓制密度對電阻率的影響。

纖維/絲束： 需專用夾具夾持，常用兩電極法（四線制） 或改進的四探針法。

復合材料： 取決于基體和增強相的性質、分布。方法選擇需謹慎，可能需結合多種方法或定制夾具。

兩電極法 + 四線制：

在樣品兩端施加電流電極，在更內側測量電壓電極。

優點： 接線相對簡單，可通過四線制消除引線電阻影響。

缺點： 電流分布不如四探針均勻，接觸電阻仍可能對電壓測量點有影響（盡管四線制已大幅降低），精度通常低于四探針法。適用于電阻率較高或較低，或形狀受限的樣品。